
Influence of temperature on microelectronics and system reliability
de Pradeep Lall · Publicada por primera vez en 1997

de Pradeep Lall · Publicada por primera vez en 1997
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780429600074
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780429611117
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780429605598
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780367400972
CRC Press · inglés