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Datos bibliográficos de Open Library (Internet Archive). Tabla Cutter-Sanborn de tres cifras.

NNanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Número de Cutter-SanbornD131nEntrada «Dahl» → 131 · marca de obra “n”

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Materias

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light (2016)
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781119329657

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light — Pierre-Richard Dahoo, Philippe Po | Cutter Number

Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781119329633

Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781119329688

Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781848219366