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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
ISBN: 9781119329688

Autor	Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Editorial	Wiley & Sons, Incorporated, John
Fecha de publicación	2016
Idioma	inglés
Páginas	316
ISBN-13	9781119329688
Número de Cutter	`D131n`

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light (2016) — ISBN 9781119329688 | Cutter Number