Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Edición de la obra Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
| Autor | Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2016 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 316 |
| ISBN-13 | 9781119329657 |
| Número de Cutter | D131n |