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Iddq testing for CMOS VLSI

Tapa de Iddq testing for CMOS VLSI

Número de Cutter-SanbornR161iEntrada «Rait» → 161 · marca de obra “i”

Iddq testing for CMOS VLSI

de Rochit Rajsuman · Publicada por primera vez en 1995

Materias

Very large scale integration
Testing
Iddq testing
Integrated circuits

Ediciones (1)

Iddq testing for CMOS VLSI (1995)
Artech House · inglés

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