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Bridging faults and IDDQ testing

BBridging faults and IDDQ testing

Número de Cutter-SanbornM236bEntrada «Mal» → 236 · marca de obra “b”

Bridging faults and IDDQ testing

de Yashwant K. Malaiya, Rochit Rajsuman

Materias

Complementary Metal oxide semiconductors
Testing
Data processing
Iddq testing

Ediciones (1)

Bridging faults and IDDQ testing (1992)
IEEE Computer Society Press · inglés

Más obras de Yashwant K. Malaiya

Bridging faults and IDDQ testing — Yashwant K. Malaiya, Rochit Rajsuman | Cutter Number

1

1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing

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1998

Tapa de 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing

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