Semiconductor Characterization
Present Status and Future Needs
Edición de la obra Semiconductor characterization
| Autor | W. Murray Bullis, David G. Seiler, A. C. Diebold |
|---|---|
| Editorial | Amer Inst of Physics |
| Fecha de publicación | August 1996 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 729 |
| Formato | Hardcover |
| ISBN-13 | 9781563965036 |
| ISBN-10 | 1563965038 |
| OCLC | 503656197 |