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Point Defects in Semiconductors I

Tapa de Point Defects in Semiconductors I

Número de Cutter-SanbornL292pEntrada «Lann» → 292 · marca de obra “p”

Point Defects in Semiconductors I

de Michel Lannoo

Materias

Crystallography
Physics
Semiconductors
Dislocations in crystals

Ediciones (1)

Point Defects in Semiconductors I (1981)
Springer Berlin Heidelberg · inglés · ISBN 9783642815768

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