Point Defects in Semiconductors I
Theoretical Aspects
Edición de la obra Point Defects in Semiconductors I
| Autor | Michel Lannoo |
|---|---|
| Editorial | Springer Berlin Heidelberg |
| Fecha de publicación | 1981 |
| Lugar | Berlin, Heidelberg |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 265 |
| Formato | [electronic resource] : |
| ISBN-13 | 9783642815768, 9783642815744 |
| ISBN-10 | 3642815766, 364281574X |
| OCLC | 851380185 |
| Serie | Springer Series in Solid-State Sciences -- 22 · Springer Series in Solid-State Sciences -- 22. |