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Nanostructure science, metrology, and technology

Tapa de Nanostructure science, metrology, and technology

Número de Cutter-SanbornP857nEntrada «Post» → 857 · marca de obra “n”

Nanostructure science, metrology, and technology

de Michael T. Postek

Materias

Metrology
Nanotechnology
Congresses
Nanostructures
Microelectronics
Measurement

Ediciones (1)

Nanostructure science, metrology, and technology (2002)
SPIE-the International Society for Optical Engineering · inglés

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