Metrology and Standardization for Nanotechnology
de Elisabeth Mansfield, Daisuke Fujita, Debra L. Kaiser, Marcel Van de Voorde
de Elisabeth Mansfield, Daisuke Fujita, Debra L. Kaiser, Marcel Van de Voorde
Wiley-VCH Verlag GmbH · inglés · ISBN 9783527340392
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527800292
Wiley & Sons, Limited, John · inglés · ISBN 9783527800308
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527800056
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527712434
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527699988