Metrology and Standardization for Nanotechnology
Protocols and Industrial Innovations
Edición de la obra Metrology and Standardization for Nanotechnology
| Autor | Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke Fujita, Marcel Van de Voorde |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2017 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 626 |
| ISBN-13 | 9783527712434 |
| Número de Cutter | M287m |