
Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
de Wendong Zhang, Xiujian Chou, Tielin Shi, Zongmin Ma, Haifei Bao, Jingdong Chen, Liguo Chen, Dachao Li, Chenyang Xue

de Wendong Zhang, Xiujian Chou, Tielin Shi, Zongmin Ma, Haifei Bao, Jingdong Chen, Liguo Chen, Dachao Li, Chenyang Xue
Wiley · ISBN 9781118717967
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781118717981
Wiley & Sons, Limited, John · inglés · ISBN 9781118717974
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781118718001
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9781118717998