Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
Edición de la obra Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
| Autor | Xiujian Chou, Wendong Zhang, Tielin Shi, Zongmin Ma, Haifei Bao |
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| Editorial |
Edición de la obra Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
| Autor | Xiujian Chou, Wendong Zhang, Tielin Shi, Zongmin Ma, Haifei Bao |
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| Editorial |
| Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2016 |
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| Idioma | inglés |
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| Páginas | 352 |
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| ISBN-13 | 9781118718001 |
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| Número de Cutter | C552m |
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