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Materials Reliability in Microelectronics II

Tapa de Materials Reliability in Microelectronics II

Número de Cutter-SanbornT469mEntrada «Thompson, C.» → 469 · marca de obra “m”

Materials Reliability in Microelectronics II

de C. V. Thompson

Materias

Microelectronics
Materials, research
Diffusion
Reliability
Congresses
Materials
Testing
Electrodiffusion
Microstructure

Ediciones (2)

Materials Reliability in Microelectronics II (2014)

Materials Reliability in Microelectronics II — C. V. Thompson | Cutter Number

University of Cambridge ESOL Examinations · inglés · ISBN 9781107409682

Materials Reliability in Microelectronics II (1992)

Materials Research Society · inglés · ISBN 9781558991606

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