Materials Reliability in Microelectronics II
Edición de la obra Materials Reliability in Microelectronics II
| Autor | C. V. Thompson, J. R. Lloyd |
|---|---|
| Editorial | University of Cambridge ESOL Examinations |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 344 |
| ISBN-13 | 9781107409682 |
| Número de Cutter | T469m |