Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
de Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla
de Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527681099
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527681082
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9783527681105
Wiley & Sons, Limited, John · inglés · ISBN 9783527681075
