Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Theory, Algorithms, and Applications
Edición de la obra Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
| Autor | Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla |
|---|---|
| Editorial | Wiley & Sons, Incorporated, John |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 344 |
| ISBN-13 | 9783527681105 |
| Número de Cutter | S492f |