Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
de M. Servin, J. M. Padilla, J. A. Quiroga
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Materias
Ediciones (1)
- Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology (2014)
Wiley-VCH Verlag GmbH · inglés · ISBN 9783527411528
de M. Servin, J. M. Padilla, J. A. Quiroga
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Wiley-VCH Verlag GmbH · inglés · ISBN 9783527411528