Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Theory, Algorithms, and Applications
Edición de la obra Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
| Autor | M. Servin, J. M. Padilla, J. A. Quiroga |
|---|---|
| Editorial | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Fecha de publicación | 2014 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 344 |
| ISBN-13 | 9783527411528 |
| Número de Cutter | S492f |