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Failure Analysis of Integrated Circuits

Tapa de Failure Analysis of Integrated Circuits

Número de Cutter-SanbornW133fEntrada «Wagner, G.» → 133 · marca de obra “f”

Failure Analysis of Integrated Circuits

de Lawrence C. Wagner

Materias

Failures
Semiconductors
Reliability
Testing
Integrated circuits

Ediciones (1)

Failure Analysis of Integrated Circuits (1999)
Springer · inglés · ISBN 9780412145612

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