Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
de Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus
Ediciones (1)
- Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip (2010)
IGI Global · inglés · ISBN 9781283019736
de Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus
IGI Global · inglés · ISBN 9781283019736