Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Edición de la obra Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
| Autor | Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus |
|---|---|
| Editorial | IGI Global |
| Fecha de publicación | 2010 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 579 |
| ISBN-13 | 9781283019736 |
| Número de Cutter | U12d |