Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
de Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim
de Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781000193350
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781000193343
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780367275150
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781000193336
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9780429298073