Characterization Testing Measurement and Metrology
Edición de la obra Characterization, Testing, Measurement, and Metrology
| Autor | Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2020 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9780367275150 |
| Número de Cutter | P898c |