Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) III
de Amit Ashok, Joel Greenberg, Michael Gehm, Mark Neifeld
Materias
Ediciones (1)
- Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) III (2018)
SPIE · inglés · ISBN 9781510617759
de Amit Ashok, Joel Greenberg, Michael Gehm, Mark Neifeld
SPIE · inglés · ISBN 9781510617759