Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX)
de Amit Ashok, Mark Neifeld, Michael Gehm
Ediciones (1)
- Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) (2016)
SPIE · inglés · ISBN 9781510600881
de Amit Ashok, Mark Neifeld, Michael Gehm
SPIE · inglés · ISBN 9781510600881