Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI CircuitsEdición de la obra Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI CircuitsAutorXiao Liu, Qiang XuEditorialSpringerFecha de publicaciónJun 14, 2013Páginas126FormatopaperbackISBN-139783319005348ISBN-103319005340Número de CutterL783tVer todas las ediciones de esta obra →
