Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI CircuitsEdición de la obra Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI CircuitsAutorXiao Liu, Qiang XuEditorialSpringerFecha de publicaciónAug 23, 2016Páginas108FormatopaperbackISBN-139783319375946ISBN-103319375946Número de CutterL783tVer todas las ediciones de esta obra →
