Self-testing VLSI design
Edición de la obra Self-testing VLSI design
| Autor | V. N. I͡Armolik |
|---|---|
| Editorial | Elsevier |
| Fecha de publicación | 1993 |
| Lugar | Amsterdam, New York |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 345 |
| ISBN-10 | 0444896406 |
| OCLC | 27226281 |
| LCCN | 92046538 |
| Número de Cutter | I11s |