Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Edición de la obra Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
| Autor | Zhiyong Ma, David G. Seiler |
|---|---|
| Editorial | Jenny Stanford Publishing |
| Fecha de publicación | 2017 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781351733953 |
| Número de Cutter | M111m |