Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Edición de la obra Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
| Autor | Zhiyong Ma, David G. Seiler |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2016 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9789814745086 |
| OCLC | 980304338 |
| Número de Cutter | M111m |