Electron Microscopy and Analysis Third Edition
Edición de la obra Electron Microscopy and Analysis Third Edition
| Autor | Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2000 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 254 |
| ISBN-13 | 9781420017250 |
| Número de Cutter | G652e |