Electromigration and Stress Voiding
Edición de la obra Electromigration and Stress Voiding
| Autor | Shyam P. Murarka |
|---|---|
| Editorial | John Wiley & Sons Inc |
| Fecha de publicación | February 22, 2008 |
| Idioma | inglés |
| Formato | Hardcover |
| ISBN-13 | 9780471040583 |
| ISBN-10 | 0471040584 |
| OCLC | 82913370 |
| Número de Cutter | M972e |