Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Edición de la obra Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits
| Autor | Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | June 21, 2007 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 328 |
| ISBN-13 | 9780387465463 |
| ISBN-10 | 0387465464 |
| OCLC | 79447484 |
| Número de Cutter | S121d |