Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Edición de la obra Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits
| Autor | Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez |
|---|---|
| Editorial | Springer London, Limited |
| Fecha de publicación | 2007 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9780387465470 |
| Número de Cutter | S121d |