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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 9781441942852

Autor	Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Editorial	Springer
Fecha de publicación	Nov 10, 2010
Páginas	328
Formato	paperback
ISBN-13	9781441942852
ISBN-10	1441942858
Número de Cutter	`S121d`

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (2010) — ISBN 9781441942852 | Cutter Number