Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
Edición de la obra Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
| Autor | Manoj Sachdev |
|---|---|
| Editorial | Kluwer Academic |
| Fecha de publicación | 1998 |
| Lugar | Boston |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 308 |
| ISBN-10 | 0792380835 |
| LCCN | 97039048 |
| Serie | Frontiers in electronic testing |
| Número de Cutter | S121d |