Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Edición de la obra Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
| Autor | Manoj Sachdev |
|---|---|
| Editorial | Springer London, Limited |
| Fecha de publicación | 2013 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781475749267 |
| Número de Cutter | S121d |