Automatic inspection and novel instrumentation
25-26 June 1997, Singapore
Edición de la obra Automatic inspection and novel instrumentation
| Autor | Anthony T. S. Ho |
|---|---|
| Editorial | SPIE |
| Fecha de publicación | 1997 |
| Lugar | Bellingham, Wash., USA |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 170 |
| ISBN-10 | 0819426121 |
| OCLC | 38007641, 503971197 |
| LCCN | 98122013 |
| Serie | SPIE proceedings series ; · v. 3185 · Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; |
| Número de Cutter |