
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
de Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly

de Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly
Springer · ISBN 9783319977843
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783319490540
Springer London, Limited · inglés · ISBN 9783642149801