Statistical analysis and modelling of spatial point patterns
de Janine Illian, Antti Penttinen, Helga Stoyan, Dietrich Stoyan
de Janine Illian, Antti Penttinen, Helga Stoyan, Dietrich Stoyan
Wiley & Sons, Limited, John · inglés · ISBN 9780470725160
Wiley & Sons, Incorporated, John · inglés · ISBN 9780470725153
Wiley-Interscience · inglés · ISBN 9780470014912
John Wiley · inglés · ISBN 9780470014912
Wiley & Sons Canada, Limited, John · inglés · ISBN 9781281321879
John Wiley · inglés · ISBN 9780470014912