
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
de Goldstein, Joseph, Dale E. Newbury, David joy, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Charles E. Lyman, Joseph R. Michael

de Goldstein, Joseph, Dale E. Newbury, David joy, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Charles E. Lyman, Joseph R. Michael
Springer · inglés · ISBN 9781493966745
Springer · inglés · ISBN 9781461332732
Springer · ISBN 9781461332749
Springer · ISBN 9781461332756
Springer · inglés · ISBN 9781461349693
Springer London, Limited · inglés · ISBN 9781461502159
Springer · ISBN 9781461276531
Kluwer Academic/Plenum Publishers · inglés
Springer · inglés · ISBN 9780306472923
Springer My Copy UK · ISBN 9781461502166
Island Press · inglés · ISBN 9781461304920