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Point and Extended Defects in Semiconductors

Tapa de Point and Extended Defects in Semiconductors

Número de Cutter-SanbornB462pEntrada «Benede» → 462 · marca de obra “p”

Point and Extended Defects in Semiconductors

de Giorgio Benedek

Materias

Semiconductors
Solid state physics
Physics
Spectroscopy and Microscopy

Ediciones (2)

Point and Extended Defects in Semiconductors (2013)
Springer · ISBN 9781468457117
Point and Extended Defects in Semiconductors (2013)
Springer London, Limited · inglés · ISBN 9781468457094

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