Pattern Recognition and Information Forensics
de Alberto Del Bimbo, Rita Cucchiara, Stan Sclaroff, Giovanni Maria Farinella, Tao Mei
de Alberto Del Bimbo, Rita Cucchiara, Stan Sclaroff, Giovanni Maria Farinella, Tao Mei
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030688202
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687793
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687625
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687892
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687953
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687922
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687984
Springer International Publishing AG · inglés · ISBN 9783030687861