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MModel-based testing for embedded systems

Número de Cutter-SanbornZ27mEntrada «Zan» → 27 · marca de obra “m”

Model-based testing for embedded systems

Materias

Model-based testing for embedded systems — Justyna Zander | Cutter Number

Model-Based Testing for Embedded Systems (2017)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781138076457
Model-Based Testing for Embedded Systems (2017)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781315218021
Model-Based Testing for Embedded Systems (2017)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781351825221
Model-Based Testing for Embedded Systems (2017)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781439818473
Model-Based Testing for Embedded Systems (2017)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781351833912
Model-Based Testing for Embedded Systems (2013)
Taylor & Francis Group · inglés · ISBN 9781280121715
Model-based testing for embedded systems (2011)
CRC Press · inglés · ISBN 9781439818459