X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Edición de la obra X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
| Autor | Williams, David B. |
|---|---|
| Editorial | Springer US, Imprint, Springer |
| Fecha de publicación | 1995 |
| Lugar | Boston, MA |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 390 |
| Formato | [electronic resource] / |
| ISBN-13 | 9781461518259 |
| ISBN-10 | 1461518253 |
| OCLC | 840283863 |
| Número de Cutter | W722x |