X-Ray Microscopy II
Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 4, 1987
Edición de la obra X-Ray Microscopy II
| Autor | David Sayre, Malcolm Howells, Janos Kirz |
|---|---|
| Editorial | Springer |
| Fecha de publicación | Mar 12, 2014 |
| Páginas | 472 |
| Formato | paperback |
| ISBN-13 | 9783662144893 |
| ISBN-10 | 3662144891 |
| Número de Cutter | S275x |