X-ray microscopy II
proceedings of the 2nd International Symposium, Brookhaven, NY, August 31-September 3, 1987
Edición de la obra X-ray microscopy II
| Autor | David Sayre |
|---|---|
| Editorial | Springer-Verlag |
| Fecha de publicación | 1988 |
| Lugar | Berlin, New York |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 454 |
| ISBN-10 | 0387193928 |
| OCLC | 264983111 |
| LCCN | 88020043 |
| Serie | Springer series in optical sciences ; · v. 56 |
| Número de Cutter |