X-ray and image analysis in electron microscopy
Edición de la obra X-ray and image analysis in electron microscopy
| Autor | John J. Friel |
|---|---|
| Editorial | Princeton Gamma-Tech |
| Fecha de publicación | 2004 |
| Lugar | Rocky Hill, NJ |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 113 |
| ISBN-10 | 0964145529 |
| OCLC | 56482102 |
| LCCN | 2003097066 |
| Número de Cutter | F911x |